日本OKEN應(yīng)用光研測量用品、γ射線測量器

簡要描述：

日本OKEN應(yīng)用光研測量用品、γ射線測量器
射線檢測儀，是專門檢測電離輻射（X、α、β、γ）的儀器。

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日本OKEN應(yīng)用光研測量用品、γ射線測量器

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X射線檢測儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測一些眼睛所看不到的物品內(nèi)部傷，斷，或電路的短路等。比如說檢測多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可心穿透基板的表面看到基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對面有個數(shù)據(jù)接收器，自動的將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號并傳到擴(kuò)張板中，并在電腦中轉(zhuǎn)換成特定的信號，通過的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣就可以通過肉眼觀測到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而不用拿萬用表去慢慢測試。

γ射線有很強(qiáng)的穿透性，γ射線探傷就是利用γ射線得穿透性和直線性來探傷的方法。γ射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來接收。當(dāng)γ射線穿過(照射)物質(zhì)時，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多，即射線能穿透過該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就小;若用儀器來接收，獲得的信號就弱。因此，用γ射線來照射待探傷的零部件時，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過有缺陷的路徑比沒有缺陷的路徑所透過的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影;若用其它接收器也同樣可以用儀表來反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過量。一般情況下，γ射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說，γ射線探傷對裂紋是不敏感的。因此，γ射線探傷對氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷敏感。即γ射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷