RX-1000-光學(xué)膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計
光學(xué)膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計
測量用途
通過偏光膜的水分測量的產(chǎn)品卷曲的管理
保護膜厚度管理和水分
防反射涂層或硬涂層厚度
粘合劑涂層厚度
粘合劑的連續(xù)脫泡·供給機
※牛蒡連續(xù)脫泡機
偏光膜的碘、硼酸的濃度測量
光學(xué)膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計
測量規(guī)格
測光方式 紅外吸收方式
分光方式 旋轉(zhuǎn)過濾方式（可安裝6張）
測量距離 22.5mm（兩傳感器頭間距離：45mm）
測量面積 7×13mm（橢圓
主機規(guī)格
傳感器頭部 外形尺寸：投光、受光傳感器均為225（W）×145（D）×80（H）（不含突起部）
重量：投光、受光單元均為3kg
中繼單元部 外形尺寸：260（W）×140（D）×113（H）（不含突起部）
重量：3kg
電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
外部輸出 RS422A的上位PC的數(shù)字輸出（9600BPS）
使用溫度 5～40℃（無結(jié)露）
光學(xué)膜測厚儀是一種精密測量儀器，主要用于測量薄膜的厚度。以下是光學(xué)膜測厚儀的主要作用：
光學(xué)涂層制備：在光學(xué)元件制造中，光學(xué)膜測厚儀可用于評估薄膜的厚度和均勻性，確保涂層符合設(shè)計要求4。
薄膜研究與開發(fā)：研究人員可以使用光學(xué)膜測厚儀來了解不同材料和工藝條件下薄膜的生長過程、光學(xué)特性和結(jié)構(gòu)變化，為新材料和新工藝的開發(fā)提供依據(jù)4。
薄膜品質(zhì)控制：在薄膜生產(chǎn)過程中，光學(xué)膜測厚儀可用于實時監(jiān)測薄膜的厚度，檢測偏差和缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量和一致性4。
高精度測量：光學(xué)膜測厚儀具備很高的測量精度，通常可達到亞納米級別。這種高精度保證了對細微薄膜厚度變化的敏感性和可靠性4。
寬波長范圍：光學(xué)膜測厚儀可以涵蓋從紫外到紅外的寬波長范圍，適用于不同材料的薄膜測量需求4。
快速測量速度：光學(xué)膜測厚儀具備快速的數(shù)據(jù)采集和處理能力，能夠在短時間內(nèi)完成多個點位的測量，提高實驗效率
在線客服